有色金屬分析檢測設備

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高低溫霍普金森桿 816     

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霍普金森桿是一種研究一維應力狀態下材料動態力學性能的有效實 驗裝置。該裝置通過應力波對試樣進行沖擊，可以計算出應力、應變、應變率、 應變能等，通過該設備可以研究金屬材料、復合材料、混凝土及巖石類各向異性 材料和各向同性材料的動態力學性能參數（動態壓縮強度、巴西圓盤動態拉伸強 度等）。也可對試樣進行在不同外圍約束力下進行動態性能測試。

D300 經濟型高精度臺階儀 816     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關?？烧{節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 805     

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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。

MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯用系統 808     

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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經過30多年的發展后，從形貌測試及其它常規功能來看已經非常成熟。然而常規的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進行多性質原位測試分析的需求，尤其在化學、光學、電學、熱學、力學等領域。 在具備常規原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術，結合波長可調的可見-紅外光源，從而實現10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集，無需遠場光學接收器及光譜儀。 此外，VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀

VITA　反應離子刻蝕機（垂直腔室） 816     

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反應離子刻蝕系統，垂直腔室

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 811     

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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術。是將表面等離子體共振技術和光學顯微鏡巧妙結合為一體的生物傳感檢測儀?？梢酝瑫r得到細胞原位明場成像、SPR成像、及SPR動力學曲線定量親和常數、結合解離常數，它為免標記研究分子相互作用的領域開辟一個嶄新的前沿。專門針對細胞膜蛋白和相關分子免標記檢測而設計的SPRm200， 使您在不需要從細胞中提取和分離膜蛋白的前提下實時觀察細胞結構并同時測量藥物和靶點在細胞上的結合過程。還可進行對藥物和在天然狀態下的膜蛋白之間相互作用的測量，高分辨SPR成像，可

原位納米壓痕儀 816     

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NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試；也可以直接在大氣環境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試（CSM）、力學性能譜圖（Mapping）、納米動態力學分析（DMA）、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試中表現出色，可同時將SEM圖像與力學測試數據同步。NanoFlip還可以進行快速壓痕測量，這是在惰性環境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷檢測儀 817     

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KLA Candela光學表面缺陷分析儀（OSA）可對半導體及光電子材料進行先進的表面檢測。Candela系列既能夠檢測Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料進行檢測，成為其制程中品質管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學表面分析（OSA）專用技術，可同時測量散射強度、形狀變化、表面反射率和相位轉移，為特征缺陷（DOI）進行自動偵測與分類。OSA檢測技術結合散射測量、橢圓偏光、反射測量與光學形狀分析等基本原理，以非破環性方式對Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度

電阻率測試儀 812     

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Filmetrics的薄膜電阻測量設備開發源自于有著超過30年經驗的KLA的薄膜電阻計量技術，并由20年臺式測量設備開發經驗的Filmetrics團隊完善了桌面式方塊電阻測量產品。KLA薄膜電阻測量技術包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測量儀器可測量沉積在多種基材上的導電片和薄膜，跨越10個數量級范圍電阻率，包括：半導體晶圓基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB圖案特征、太陽能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔

Desk V 薄膜沉積解決方案 814     

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Desk V樣品制備系統配制用于蒸發和濺射，是一種高生產率的解決方案，可提供卓越、一致和高度可重復的結果。 Desk V鍍膜系統提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機選項，專為高分辨率顯微鏡樣品設計，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導電鍍膜，其熱蒸發選項可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。

D300 經濟型高精度臺階儀 818     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關?？烧{節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 833     

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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。

MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯用系統 823     

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在具備常規原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術，結合波長可調的可見-紅外光源，從而實現10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集，無需遠場光學接收器及光譜儀。VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀進行聯用，組成原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯用系統，以滿足科研人員在納米尺度下的測試需求。

P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀 824     

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KLA是全球半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數據存儲、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領域中有著不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不斷迭代更新，集合眾多技術優勢。 P-7建立在市場領先的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。從可靠性表現來看， P-7具有較好的測量重復性。UltraLite?傳感器具有動態力控制，

實驗室合金顎式破碎機 880     

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LHMY-HJ125x150顎式合金破碎機 一、概述： 顎式合金破碎機主要用于化驗室，對原材料的中碎和細碎,其破碎方式為曲動擠壓式。被破碎物料的大塊度應小于其選用機器型號料口尺寸的10-60毫米。被破碎物料的抗壓強度為中等硬度。配用合金材質鄂板，如破碎物料有其它要求可提前定貨。

Agilent 8890 氣相色譜儀 1035     

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8890GC是安捷倫新一代旗艦級GC，擴展性強，性能滿足更廣泛的需要。 ——新一代強大的電子結構，帶雙核處理器； ——更加豐富的智能互聯功能； ——配備全套進樣口、檢測器和附件，CFT, Deans Switch, 反吹，雙塔進樣； ——支持6個氣體進樣閥和8個加熱區域； ——可同時安裝4個檢測器(15種可備選擇)； ——第6代EPC； ——支持眾多配件和易耗品； ——7英寸彩色觸摸屏

GC5890N高效氣相色譜儀 989     

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儀器簡介：可選配多種檢測器及填充柱、分流/不分流毛細管柱進樣系統;全兼容安捷倫6890N氣相色譜儀檢測器及相關檢測器控制板、色譜工作站和自動進樣器。性價比卓越，性能優良，運行穩定可靠。 應用領域：石油、化工、食品、制藥、環保、疾控、安監、水務、電力、冶金、科研院所、質檢部門。 配套產品：頂空進樣器、氣體發生器、氣體純化器、熱解析儀、裂解器等。

GC7280A氣相色譜儀 1025     

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產品特點： 1.外形美觀大方，機型小巧，靈便，不占用實驗室太多空間； 2.采用中文顯示界面及中文按鍵，界面簡單明了，儀器有故障中文報警顯示，極限溫度保護，且具備非常人為的準備中，準備好，運行中指示界面，方便應用者快速掌握其使用； 3.進樣方式可選擇填充柱或毛細管分流不分流進樣，氣體進樣閥進樣； 4.單檢測器可選配單FID或單TCD； 5.不銹鋼精小爐膛的特殊加工工藝，使得溫度梯度小，降溫速度快，滿足快速升降溫要求； 6.特殊的隔熱材料的使用，即使機型小巧也能夠保證各加熱區之間的熱傳遞減少至更低。

X-710自動頂空進樣器 1002     

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頂空進樣技術是氣相色譜法中一種方便快捷的樣品前處理方法，適用于揮發性大的組分分析，可以免除冗長繁瑣的樣前處理過程，避免有機溶劑對分析造成的干擾，減少對色譜柱及進樣口的污染。 應用領域： ◆法庭科學：血、尿中醇、醛、酮等揮發性毒物的檢驗。 ◆交通安全：車輛駕駛人員飲酒及醉酒駕車時血液中酒精含量值的檢驗。 ◆釀酒行業：啤酒中低沸點香味成分的測定。 ◆食品行業：浸出油中的溶劑殘留量的檢測。 ◆環境保護：如江、河、湖等地表水及自來水中揮發性鹵代烴的測定。 ◆制藥行業：藥品中的殘留溶劑的檢測。

GC7280B氣相色譜儀 1045     

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1.信息豐富的觸摸屏液晶顯示器：本機采用7寸觸摸屏液晶顯示器，Flash動畫實時顯示，動態顯示逼真圖形。 2.完善的溫控系統：擁有獨特核心溫控開發技術，PID溫度控制系統，利用總線開發技術特點，采用軍工級控制芯片，控溫軟硬件雙重過溫保護，使得溫控系統長久運行，可靠耐用。 3.高集成的氣體，液體，自動進樣系統：為滿足實驗室使用要求，本機具有單氣路進樣系統，雙氣路進樣系統，自動閥進樣等配置可選，可搭載國內外任何一款高性能自動進樣器，接口協議已預留系統，方便對接。 4.杰出的閥切換技術：優化閥切條件及分析過程。

脈沖地下金屬探測器 1018     

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AR-700型地下金屬探測器配備45公分小探盤以及2*2M和1*1M的大探框。該儀器搭載了全新設計的超細高頻電纜線，不但大幅增加探測深度而且大大減少了儀器本身的重量！其實際探測深度不但一舉超越了目前市面上所有定位型儀器的基礎上，還保證了完美的穩定性。電源設計上不同于普通儀器的鎳氫電池而使用了容量更大、成本更高、使用壽命更長的大容量鋰離子電池。

地下金銀探測器 （美國） 1099     

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T2是一款高性能，多功能的金屬探測器，它集合了在電子儀器最新的技術，它的功能設計代表了金屬探測器技術的最前沿。T2更容易去學習使用，它的輕重量和平衡提供，比其他同價位的金屬探測器更加出色。它非常出名于用在黃金探測上。 T2是一款電腦化的金屬探測器。它具有很高的靈敏度和地面平衡控制能力，尤其是在黃金探測上。在困難的條件下的遺跡探測，有很好的辨別力，在硬幣探測時，可視的目標ID作為強有力的參考。T2在13KHZ頻率下工作，在黃金和珠寶和硬幣上，有很好的工作性能。T2附帶11英寸的探測盤，以達到最大的探測深度。

微型調頻地下金屬探測儀 1008     

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微型調頻地下金屬探測儀(幽靈1號)是最新研制的高科技地下金屬探測器、地下金屬掃描探測儀器。深度可達15米，搜索范圍可達600米。該產品運用了最新的數字頻率合成技術，可以探測地下的金，銀，銅掃描。專門針對幽靈1號所研發的數字地平衡(DGB)特殊功能可以保證最大探測范圍和操作穩定性，無論土地類型如何。

超深脈沖地下金屬探測器（德國） 1006     

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AR-V6型地下金屬探測器配備45公分小探盤以及2*2M的大探框。該儀器搭載了全新設計的超細高頻電纜線，不但大幅增加探測深度而且大大減少了儀器本身的重量！其實際探測深度不但一舉超越了目前市面上所有定位型儀器的基礎上，還保證了完美的穩定性。探測80公分大小的金屬物體實際探測已經超過6米的深度，遠遠的超過了目前市面上所有的探測器！而且在電源設計上不同于普通儀器的鎳氫電池而使用了容量更大、成本更高、使用壽命更長的大容量鋰離子電池。

XNDT-101鑄造件缺陷在線檢測機 2439     

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XNDT-101主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統和主機電腦組成，實現對鑄造件內部缺陷的在線檢測。

XNDT-102 便攜式探傷儀 1839     

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XNDT-102便攜式成像系統由1個探測器盒、1臺便攜式射線源和1臺筆記本電腦組成，可用于公共安全場合的包裹安全檢查、工業無損檢測等。

XNDT-103異物在線檢測機 1913     

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XNDT-103主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統和主機電腦組成，并提供一組繼電器輸出信號，用于剔除不合格產品。廣泛用于食品、服裝、鞋類、再生資源回收等行業的異物檢測。

場發射透射電子顯微鏡 1827     

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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。

紅外光譜儀 1949     

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傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時間內分析具有挑戰性的樣品，提供最完善的解決方案。分析實驗室對能夠高效完成原材料和最終產品的分析任務的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統傅立葉變換紅外光譜儀的數據分析，樣品采集和儀器驗證環節，成為完成這類分析任務的一種較好的選擇為確保儀器性能而設計系統性能確認（SP）是一個確保光譜儀長期穩定運行的有力工具。

熱重分析儀 2070     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統。具有如下顯著優點：消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應性更佳。同步熱分析儀根據某一熱效應是否對應質量變化，有助于判別該熱效應所對應的物化過程（如區分熔融峰、結晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。同步熱分析儀在反應溫度處知道樣品的當前實際質量，有利于反應熱焓的準確計算。